FS5双晶探头采用长方形晶片设计，用于超声波无损探伤，在一个外壳内封装了两个独立的压电晶片，一个负责发射，一个负责接收。工作时，双晶探头通过“物理隔离发射与接收”，并利用“V形声程伪聚焦”，改变延迟块之间的夹角，就能调整焦点的深度，以适应不同厚度的检测需求。双晶探头通过导线连接到探伤仪，并把检测信号传送给主机。

   由于双晶探头的发射与接收晶片分离设计，有效消除了始波盲区，对表面裂纹、腐蚀减薄、点蚀等近表面缺陷具有极高的检出灵敏度，其检测精度比单晶探头高出 3 倍以上。面对不规则、粗糙或锈蚀表面时，双晶探头的耦合效果优于单晶探头，能够有效减少耦合剂在表面孔洞中产生的干扰回波，更准确地捕捉来自点蚀底部的回波信号，从而精确测量剩余金属壁厚。

   FS5双晶探头凭借盲区小、近表面分辨力高、信噪比好、曲面耦合优等核心优势，成为薄壁工件测厚与近表面缺陷检测的首选工具，在工业无损检测中发挥着不可替代的作用。